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Generalized method for identifying yield-line patterns in T-stubs using discontinuity layout optimization

Autor(en):
Medium: Fachartikel
Sprache(n): Englisch
Veröffentlicht in: Engineering Structures, , v. 244
Seite(n): 112802
DOI: 10.1016/j.engstruct.2021.112802
Structurae kann Ihnen derzeit diese Veröffentlichung nicht im Volltext zur Verfügung stellen. Der Volltext ist beim Verlag erhältlich über die DOI: 10.1016/j.engstruct.2021.112802.
  • Über diese
    Datenseite
  • Reference-ID
    10623861
  • Veröffentlicht am:
    26.08.2021
  • Geändert am:
    26.08.2021
 
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