A new Fourier-related double scale analysis for wrinkling analysis of thin films on compliant substrates
| Autor(en): |
Qun Huang
Jie Yang Wei Huang Yin Liu Heng Hu Gaetano Giunta Salim Belouettar |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Composite Structures, Januar 2017, v. 160 |
| Seite(n): | 613-624 |
| DOI: | 10.1016/j.compstruct.2016.10.062 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10452157 - Veröffentlicht am:
23.10.2020 - Geändert am:
23.10.2020
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