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On the influence of T-Stress on photoelastic analysis under pure mode II loading

Autor(en):

Medium: Fachartikel
Sprache(n): Englisch
Veröffentlicht in: Frattura ed Integrità Strutturale, , n. 3, v. 2
Seite(n): 2-10
DOI: 10.3221/igf-esis.03.01
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  • Über diese
    Datenseite
  • Reference-ID
    10458762
  • Veröffentlicht am:
    25.10.2020
  • Geändert am:
    25.10.2020
 
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