Ramanujan-gram: an autonomous weak period fault extraction method under strong noise

Autor(en):	Haiyang Pan (School of Mechanical Engineering, Anhui University of Technology, Ma’anshan, China) Hong Feng (School of Mechanical Engineering, Anhui University of Technology, Ma’anshan, China) Jian Cheng (School of Mechanical Engineering, Anhui University of Technology, Ma’anshan, China) Jinde Zheng (School of Mechanical Engineering, Anhui University of Technology, Ma’anshan, China)
Medium:	Fachartikel
Sprache(n):	Englisch
Veröffentlicht in:	Structural Health Monitoring
DOI:	10.1177/14759217231197806

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